【佳學(xué)基因檢測(cè)】一個(gè)或多個(gè)上側(cè)副切牙發(fā)育不全長(zhǎng)期困擾基因檢測(cè)

基因檢測(cè)導(dǎo)讀：

一個(gè)或多個(gè)上側(cè)副切牙發(fā)育不全基因檢測(cè)試劑: 來(lái)自湖南省益陽(yáng)市沅江市新灣鎮(zhèn)的孟建安（化名）在被醫(yī)生診斷為一個(gè)或多個(gè)上側(cè)副切牙發(fā)育不全。聯(lián)系《Comparative Exercise Physiology》,基因突變引起的一個(gè)或多個(gè)上側(cè)副切牙發(fā)育不全會(huì)遺傳。

本文關(guān)鍵詞

上側(cè),副切牙,發(fā)育不全,基因檢測(cè)

人體疾病表征數(shù)據(jù)庫(kù)查詢

出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)上側(cè)副切牙發(fā)育不全醫(yī)師會(huì)懷疑以下疾病類(lèi)型：

怎樣才能診斷正確？

表型數(shù)據(jù)庫(kù)代碼是：HP:0011050

表型描述

Agenesis of one or more upper lateral secondary incisor.